紐約大學以電磁共振顯影技術偵測失憶症先兆

紐約大學醫學院的腦科及放射科專家,以電磁共振顯影的技術偵測腦部的變化,可以診斷出罹患失憶症的先兆。

研究小組公佈他們在最近六年裡,針對四十五名六十歲到八十五歲之間健康人腦部的變化,大腦皮層中間顳葉在每一年的偵測時呈現大幅萎縮的人,腦力減弱的情況相當高。

參加這項實驗的四十五個人當中,有十三個人在六年間有記憶力嚴重減退的問題,而這十三個人當中,有十一個人的中間顳葉非常明顯的萎縮。專家指出,用電磁共振顯影的方式偵測,準確度高達百分之九十,比起別的偵測方式精確而且方便。

專家指出,用電磁共振顯影技術,任何步入高齡的人都可以一年花十五分鐘的時間留下腦部中間顳葉的顯影,隔年再做同樣的顯影,如果出現大幅的改變,就要開始注意了。

新聞來源:華視新聞



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