宜鼎搶進半導體 DRAM模組切入自動光學檢測應用

宜鼎搶進半導體 DRAM模組切入自動光學檢測應用 | 華視新聞
(圖/資料照片)

中央社  / 新竹市

(中央社記者張建中新竹23日電)記憶體模組廠宜鼎成功搶進半導體領域,旗下工業級動態隨機存取記憶體(DRAM)模組導入自動光學檢測(AOI)智慧瑕疵檢測應用。

宜鼎今天透過新聞稿表示,旗下最新的DDR5 RDIMM記憶體模組搶進半導體市場,支持晶圓AOI檢測的高效能演算需求,藉由晶圓電路缺陷分析,縮短檢測時間、提升晶圓產能與良率。

宜鼎指出,先進的AOI檢測首重記憶體頻寬、精準度與溫度管控,旗下的DDR5 RDIMM記憶體模組能在頻寬與讀寫速度上成為AI推論與演算中的高速推進器,可支援32GB及64GB高容量需求。

在長時間高速演算的AOI系統中,高溫熱能也是不容忽視的議題。宜鼎表示,旗下的DDR5 RDIMM具備雙溫度感應器,並可搭配自行開發的iCAP及iSMART管理軟體,透過雲端技術掌握模組溫度變化,進行即時監控、預先示警,避免高溫生熱而影響檢測效能。(編輯:張均懋)1111223

新聞來源:中央社



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